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可測(cè)薄膜材料的高阻計(jì)具有哪些優(yōu)勢(shì)?

更新時(shí)間:2021-09-14      點(diǎn)擊次數(shù):805


設(shè)備優(yōu)勢(shì):

電阻測(cè)量范圍 1×104Ω ~1×1018 Ω;

電流測(cè)量范圍 2×10-4A ~1×10-16A;

體積小、重量輕、;

*的被測(cè)電阻、和流過(guò)電阻的電流雙顯示,使操作測(cè)量方便;
穩(wěn)定、讀數(shù)方便;
既能測(cè)電阻又能測(cè)電流;
測(cè)試電壓有六種選擇DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V;

使用操作簡(jiǎn)便,在任何電阻量程和測(cè)試電壓下均直接讀顯示數(shù)字結(jié)果,免去要乘以一個(gè)系數(shù)的麻煩,使測(cè)量超高電阻就如用萬(wàn)用表測(cè)量普通電阻樣簡(jiǎn)便。



高阻計(jì)技術(shù)參數(shù):

吉時(shí)利5位半6517B靜電計(jì)/高阻表提供的精度和靈敏度指標(biāo)高于其他同類型儀表。它還具有 完備的功能,使測(cè)量高阻和絕緣材料電阻率變得簡(jiǎn)單。6517B具有425讀數(shù)/秒的測(cè)試速率,比同 類型的靜電計(jì)快很多,可以提供快速、簡(jiǎn)易的弱 電流測(cè)量能力測(cè)量弱電流。


6517B 主要特點(diǎn):


  • 電阻測(cè)量可達(dá)1016 Ω

  • 電流測(cè)量范圍1fA - 20mA

  • *小電流量程輸入端壓降<20μV

  • 200TΩ 輸入阻抗

  • <3fA 偏置電流

  • 測(cè)試速率高達(dá)425 rdgs/s

  • 噪聲0.75fA p-p

  • 內(nèi)置±1kV電壓源

  • 的高電阻測(cè)量電壓反接方法

  • 可選的插件式掃描卡

                                         高低溫環(huán)境下的高阻測(cè)量


表面體積電阻測(cè)試儀(高阻計(jì)).jpg


 

高阻測(cè)量

6517B型靜電計(jì)/高阻表的諸多特性和能力有助于確保高阻測(cè)量應(yīng)用的準(zhǔn)確度。例如,其內(nèi)置電壓源簡(jiǎn)化了 絕緣器電阻率和所用電源電壓電平之間關(guān)系的確定。它還非常適合電容器泄漏和絕緣電阻測(cè)量、印刷電路板表 面絕緣電阻測(cè)試、電阻器電壓系數(shù)測(cè)試以及二極管泄漏特性分析。

應(yīng)用6517B型靜電計(jì)/高阻表非常適合物 理、光學(xué)、納米技術(shù)和材料科學(xué)等研究 領(lǐng)域的低電流和高阻抗電壓、電阻和電荷測(cè)量。其極低的電壓降非常適合太陽(yáng)能電池測(cè)量,其內(nèi)置電壓源和低電流靈 敏度使之成為基于聚合物的納米線等高 阻測(cè)量的出眾解決方案。其高速和易用 性使之成為質(zhì)量控制、產(chǎn)品工程和生產(chǎn) 測(cè)試(包括漏流、擊穿和電阻測(cè)試)應(yīng) 用的jihao選擇。利用6517B型靜電計(jì)/高 阻表的電壓反轉(zhuǎn)方法,可以大幅改進(jìn)對(duì) 絕緣材料的體電阻率和表面電阻率測(cè)量。 6517B型靜電計(jì)/高阻表還非常適合電化學(xué)應(yīng)用,如離子選擇性電極和pH測(cè)量、電導(dǎo)電池和電勢(shì)測(cè)定。

6517B 主要產(chǎn)品功能:

6517B靜電計(jì)/高阻表具有特殊的低 電流輸入放大器,其輸入偏置電流<3fA,噪聲僅 0.75fA p-p (峰-峰) ,輸入端壓降<20μV。對(duì)于 接近理想的電路負(fù)載,其電壓和電阻測(cè)量的輸入 阻抗是200TΩ。這些指標(biāo)確保物理、光學(xué)、納米技術(shù)和材料科學(xué)等研究領(lǐng)域低電流和高阻抗電壓、電阻和電荷測(cè)量所需的準(zhǔn)確 度和靈敏度。內(nèi)置±1kV的電壓源具有掃描能力,從而簡(jiǎn)化漏流測(cè)試、擊穿電壓測(cè)試 和電阻測(cè)試,以及絕緣材料的體電阻率(Ω-cm) 及表面電阻率(Ω/square) 的測(cè)量。

相關(guān)產(chǎn)品:


導(dǎo)通電阻評(píng)估系統(tǒng).jpg 醫(yī)用接地電阻測(cè)試儀.jpg
靜電計(jì).jpg


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