鐵電分析儀的應(yīng)用測(cè)量范圍

鐵電分析儀是一種用于研究和測(cè)試鐵電材料性能的精密儀器。其廣泛的應(yīng)用范圍涵蓋了從基礎(chǔ)科學(xué)研究到實(shí)際工業(yè)生產(chǎn)中的多個(gè)領(lǐng)域。以下是鐵電分析儀的主要應(yīng)用測(cè)量范圍：

鐵電系統(tǒng)主機(jī)優(yōu)勢(shì)在于他易于擴(kuò)展、實(shí)用性，軟件系統(tǒng)兼容目前主流品牌，軟件無(wú)縫切換。為用戶降低成本。

█ 介電測(cè)試分析模塊

█ 熱激發(fā)極化電流測(cè)試TSDC

█ 擊穿電壓測(cè)試

█ 高壓極化

█ 絕緣電阻測(cè)試

█ 四探針測(cè)試

█ 壓電性能測(cè)試

█ 鐵電參數(shù)測(cè)試

█ 熱釋電性能測(cè)試

█ 居里溫度測(cè)試

可擴(kuò)展部件：

可與高低溫冷熱臺(tái)、高溫測(cè)試裝置、探針臺(tái)、高壓放大器、高阻計(jì)、阻抗分析儀、 激光干涉儀、溫控控制器、數(shù)字源表等擴(kuò)展。

? 塊體測(cè)試夾具：用于厚膜、塊體鐵電、擊穿測(cè)試可擴(kuò)展變溫功能。

? 薄膜四探針探針臺(tái)：室溫到 250℃可用于厚膜鐵電、壓電（e31）、熱釋電測(cè)試。

? 薄膜寬溫區(qū)探針冷熱臺(tái)：-196℃到+600℃可用于薄膜和厚膜變溫的鐵電和熱釋電測(cè)試。

? 薄膜探針臺(tái)（國(guó)產(chǎn)）：室溫鐵電測(cè)試可用于薄膜和厚膜室溫鐵電性能測(cè)試。

Huace FE系列鐵電測(cè)試系統(tǒng)是目前市場(chǎng)上較xianjin的設(shè)備，有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍并且在世界鐵電測(cè)試領(lǐng)域高測(cè)試精度能力shouquyizhi。在內(nèi)置±10V電壓下，電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)500KHz；此系統(tǒng)包含HuacePro基本鐵電管理測(cè)試軟件。