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  • AMR-UD導(dǎo)通電阻評(píng)估系統(tǒng) 可靠性電路測(cè)試系統(tǒng)
    AMR-UD導(dǎo)通電阻評(píng)估系統(tǒng) 可靠性電路測(cè)試系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2024-07-23

    型號(hào):AMR-UD

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    導(dǎo)通電阻評(píng)估系統(tǒng) 可靠性電路測(cè)試系統(tǒng)在低溫、高溫的溫度循環(huán)環(huán)境下,采用4端子測(cè)試法對(duì)焊點(diǎn)、連接器接點(diǎn)等導(dǎo)體進(jìn)行多通道微小電阻連續(xù)測(cè)量,以評(píng)估電子裝配與材料的正確性和可靠性。操作軟件可實(shí)時(shí)自動(dòng)測(cè)量記錄數(shù)據(jù),圖表化微小電阻變化及試驗(yàn)箱溫度變化,可通過LAN進(jìn)行數(shù)據(jù)處理
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  • 絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/PCB測(cè)試
    絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/PCB測(cè)試

    更新時(shí)間:2023-08-29

    型號(hào):

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    面對(duì)電子產(chǎn)品越來越小型輕量及絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/PCB測(cè)試配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng),可連續(xù)監(jiān)測(cè),簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。
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  • 介電溫譜試驗(yàn)儀可測(cè)薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具
    介電溫譜試驗(yàn)儀可測(cè)薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具

    更新時(shí)間:2024-12-08

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    介電溫譜試驗(yàn)儀可測(cè)薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具,主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測(cè)試,系統(tǒng)包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測(cè)試軟件于一體,可測(cè)試材料的介電常數(shù),介質(zhì)損耗,阻抗譜Co-Co圖,機(jī)電耦合系數(shù)等,同時(shí)可分析被測(cè)樣品隨溫度,頻率,時(shí)間變化的曲線,測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。
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  • HPZT-200靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x/測(cè)試儀器
    HPZT-200靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x/測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2023-08-07

    型號(hào):HPZT-200

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    靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x/測(cè)試儀器為激振器提供穩(wěn)定頻率。采用激振器,以實(shí)現(xiàn)振動(dòng)頻率。電荷采用采用高阻放電荷放大器。以保證測(cè)試數(shù)據(jù)的精度。
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  • 水平垂直燃燒測(cè)試儀
    水平垂直燃燒測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2023-08-29

    型號(hào):

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    水平垂直燃燒測(cè)試儀本試驗(yàn)設(shè)備符合 ANSI/UL94、IEC60950-1 標(biāo)準(zhǔn)的要求。用于對(duì)電器設(shè)備和器具的塑料材 料部件進(jìn)行水平、垂直可燃性試驗(yàn)。產(chǎn)品箱體外殼為鋼材結(jié)構(gòu),并配置了透明觀察窗,數(shù)顯計(jì)時(shí)器記錄施焰、余焰、余灼時(shí)間,裝置外形美觀,使用方便,可靠。
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  • 華測(cè)熱重分析儀/力學(xué)原位加載
    華測(cè)熱重分析儀/力學(xué)原位加載

    更新時(shí)間:2023-08-21

    型號(hào):

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    華測(cè)熱重分析儀/力學(xué)原位加載(Thermal Gravimetric Analyzer)是一種利用熱重法檢測(cè)物質(zhì)溫度-質(zhì)量變化關(guān)系的儀器。熱重法是在程序控溫下,測(cè)量物質(zhì)的質(zhì)量隨溫度(或時(shí)間)的變化關(guān)系。當(dāng)被測(cè)物質(zhì)在加熱過程中有升華、汽化、分解出氣體或失去結(jié)晶水時(shí),被測(cè)的物質(zhì)質(zhì)量就會(huì)發(fā)生變化。這時(shí)熱重曲線就不是直線而是有所下降。
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  • 華測(cè)-高溫快速爐測(cè)試儀器
    華測(cè)-高溫快速爐測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2023-08-29

    型號(hào):

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    華測(cè)-高溫快速爐測(cè)試儀器-高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐,原理為加熱絲或硅碳棒對(duì)爐體加熱,加熱與降溫速度慢,效率低下,加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象
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  • 高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線
    高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線

    更新時(shí)間:2024-12-08

    型號(hào):

    瀏覽量:4080

    高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線,公司開發(fā)的高低溫阻抗、介電測(cè)量系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試平臺(tái),高溫測(cè)試夾具與WK6500系列、Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR測(cè)量設(shè)備無縫連接,實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)完成高溫環(huán)境下的阻抗、介電參數(shù)的測(cè)量與分析。
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