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儲能新材料電學綜合測試系統(tǒng) 半導體封裝材料真空探針臺空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置鐵電分析儀高壓功率放大器絕緣電阻率測試儀高低溫冷熱臺測試系統(tǒng) 50點耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗儀探針臺漏電起痕試驗儀多通道介電與電阻測試系統(tǒng)

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HCMP華測多通道介電/電阻測試儀

更新時間：2024-11-18

型號：HCMP

瀏覽量：794

華測多通道介電/電阻測試儀，主要用于：多通道電阻、介電測試等可搭載阻抗分析儀、高阻計使用；光耦繼電器，高速又耐用；切換時間 1 ms；高速I/O 輸出控制。
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HCDH-3華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI

更新時間：2024-10-23

型號：HCDH-3

瀏覽量：1163

華測高壓漏電起痕測試儀，是指在固體絕緣材料表面，在電場和電解液的聯(lián)合作用下逐漸形成導電通路的過程。這個過程被稱為漏電起痕，而絕緣材料表面抗漏電起痕的能力則稱為耐漏電起痕。漏電起痕試驗是評估絕緣材料在特定條件下的耐漏電性能的一種方法，通過模擬在潮濕或污染介質聯(lián)合作用下的環(huán)境，測定材料的相比漏電起痕指數(shù)（CTI）和耐電痕化指數(shù)（PTI）。華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI
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Huace-4華測簡易探針臺

更新時間：2024-10-24

型號：Huace-4

瀏覽量：949

華測簡易探針臺是一種輔助執(zhí)行機構，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺（chuck）上，在顯微鏡配合下，X-Y移動器件，找到需要探測的位置。
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HCWP華測儀器高溫介電溫譜儀絕緣電阻

更新時間：2024-11-20

型號：HCWP

瀏覽量：850

華測儀器高溫介電溫譜儀絕緣電阻是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設計的。從專業(yè)角度來說，其實就是高溫介電溫譜測量系統(tǒng)。主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學測試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體.
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HCZDJC-50-600050點耐壓測試儀

更新時間：2024-11-20

型號：HCZDJC-50-6000

瀏覽量：890

50點耐壓測試儀主要用于電氣用鋰電池隔膜，聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿電壓值。
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HCDH-4耐電弧試驗儀

更新時間：2024-11-20

型號：HCDH-4

瀏覽量：814

耐電弧試驗儀是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設備，絕緣材料抵抗由高壓電弧作用引起變質的能力，通常用標準電弧焰在材料表面引起炭化至表面導電而電弧消失所需時間表示，單位是秒。
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Huace-4華測半導體封裝材料真空探針臺

更新時間：2024-11-20

型號：Huace-4

瀏覽量：851

華測半導體封裝材料真空探針臺是一種輔助執(zhí)行機構，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺（chuck）上，在顯微鏡配合下，X-Y移動器件，找到需要探測的位置。
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Huace FE-3000鐵電分析儀

更新時間：2024-11-22

型號：Huace FE-3000

瀏覽量：960

可擴展型鐵電分析儀/陶瓷壓電Huace FE主機在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線、脈沖、漏電流、IV、CV、擊穿測試，也可加載選件實現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測量等特性測試功能。
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