簡要描述:華測常用可測薄膜電弱點(diǎn)絕緣材料測試儀外形為柜狀一體化設(shè)計,左側(cè)為走膜及加壓裝置,右側(cè)為控制系統(tǒng)及操作面板。走膜裝置、絕緣導(dǎo)向輥、速度檢測輥等構(gòu)成面積檢測系統(tǒng);加壓裝置、漏電流采樣電阻等構(gòu)成電弱點(diǎn)檢測系統(tǒng)??蓽y薄膜電弱點(diǎn)測試儀有阻尼裝置 新能源
產(chǎn)品分類
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品牌 | HC/華測 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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重量 | 40kg | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,電子,電氣,綜合 |
一、工作原理:
可測薄膜電弱點(diǎn)測試儀有阻尼裝置 新能源試驗(yàn)電壓是0-20kV交直流電壓,其波動為±1%。測試儀在試樣弱點(diǎn)擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來設(shè)定的電壓。銅輥為下電極,導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動。遇弱點(diǎn)時擊穿,擊穿點(diǎn)自動累積計數(shù)。膜移動以平方數(shù)自動計數(shù)。
二、可測薄膜電弱點(diǎn)測試儀有阻尼裝置 新能源儀器參數(shù):
三、儀器結(jié)構(gòu):
五、功能特點(diǎn):
1本產(chǎn)品采用智能控制技術(shù),通過選擇程序(IEC或ASTM)可自動進(jìn)行試驗(yàn),并在工業(yè)觸摸屏顯示試驗(yàn)過程和結(jié)果。
2控制系統(tǒng)采用的PLC和觸摸屏通信進(jìn)行控制。
3an全良好,抗擾能力強(qiáng),測試精度高。
4自動化程度高,按照設(shè)定的試驗(yàn)要求,自動升壓到設(shè)定的電壓后,自動完成試驗(yàn)并自動歸零。
5電弱點(diǎn)測試儀電壓和電流具有自動校驗(yàn)功能,方便計量和。
六、華測常用可測薄膜電弱點(diǎn)絕緣材料測試儀設(shè)備優(yōu)勢:
1、TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù):
電弱點(diǎn)測試儀大都采用的光耦隔離方式,但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗擾處理,對于擊穿放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。
2、方便的試驗(yàn)方式:
本試驗(yàn)儀器輸入交流電壓與直流電壓,試驗(yàn)過程通過設(shè)備自帶的工控機(jī)進(jìn)行控制。實(shí)時觀測電弱點(diǎn)數(shù)量,試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)速與長度、試驗(yàn)電壓與試驗(yàn)電流等參數(shù)。
3、伺服電機(jī)配合編碼器同步運(yùn)行保證精準(zhǔn)速度控制:
本試驗(yàn)儀器采用伺服電機(jī)控制收卷速度。伺服電機(jī)程序上采用閉環(huán)控制,同時配合數(shù)字編碼器相互驗(yàn)證,精確速度控制。
4、雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù):
采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電弱點(diǎn)測試儀器,華測生產(chǎn)的電弱點(diǎn)測試儀器不僅具備過壓、過流保護(hù)系統(tǒng),當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時,將瞬間切斷高壓。
5、SPM電子升壓技術(shù):
設(shè)備大都采用SPWM電子升壓技術(shù)這-技術(shù)具有升壓速度平穩(wěn),精度高。
6、氣脹軸安裝整圈周膜:
采用氣脹軸安裝整圈膜安裝方便,優(yōu)勢是可實(shí)現(xiàn)放圈與收圈過程中不產(chǎn)生偏向等。
7、阻尼裝置:
華測自主開發(fā)的尼阻技術(shù)可防止運(yùn)動慣量所產(chǎn)生的膜移動過程中的松馳現(xiàn)象。
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