簡(jiǎn)要描述:MLCC多通道介電溫譜/頻譜測(cè)試儀專用儀器是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。從專業(yè)角度來說,其實(shí)就是高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)。主要用于絕緣材料在不同溫 度不同頻率下的電學(xué)測(cè)試,系統(tǒng)包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測(cè)試軟件于一體.
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | 北京華測(cè) | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子,電氣 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
華測(cè)高溫介電溫譜測(cè)試儀-專用儀器是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。它由硬件設(shè)備和測(cè)量軟件組成,包括高溫介電測(cè)量?jī)x主機(jī)、高溫介電測(cè)量系統(tǒng)軟件、高溫測(cè)試夾具、阻抗分析儀四個(gè)組成部分。根據(jù)測(cè)量需要,還可以外接真空油泵進(jìn)行真空環(huán)境的介電測(cè)量。高溫測(cè)試平臺(tái)是為樣品提供一個(gè)高溫環(huán)境;高溫測(cè)試夾具提供待測(cè)試樣品的測(cè)試平臺(tái);阻抗分析儀則負(fù)責(zé)測(cè)試各組參數(shù)數(shù)據(jù)。后,再通過測(cè)量軟件將這些硬件設(shè)備的功能整合在一起,形成一套由實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)到溫度控制、參數(shù)測(cè)量、圖形數(shù)據(jù)顯示與數(shù)據(jù)分析于一體的高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)。
系統(tǒng)介紹:
系統(tǒng)配置:Acer商用計(jì)算機(jī),信號(hào)切換與控制系統(tǒng),高溫儀及溫控系統(tǒng),四通道夾具, 測(cè)試與數(shù)據(jù)采集軟件(軟件兼容同惠LCR表以及是德(安捷倫)E4980AL型LCR表和4294A型阻抗分析儀);
輸入端口:四個(gè)BNC端口;
輸出端口:10個(gè)SMA輸出端口,需采用SMA接頭以提高高頻測(cè)試穩(wěn)定性(頻率大于1MHz時(shí));
溫度范圍:室溫 850℃(額定溫區(qū),長(zhǎng)時(shí)間使用溫度),室溫1000℃(ji限溫區(qū),短時(shí)間使用);
系統(tǒng)屏蔽:通道切換主板預(yù)埋屏蔽層設(shè)計(jì),連接線材采用射頻同軸線,以保證低頻與高頻測(cè)試精度和穩(wěn)定性;
測(cè)試夾具:融石英與探針復(fù)合夾具。其中探針需使用氧化鋁與鉑金復(fù)合結(jié)構(gòu),芯層為鉑金,絕緣層為氧化鋁。以保證長(zhǎng)期高溫測(cè)試穩(wěn)定性;
同時(shí)測(cè)量樣品數(shù):4個(gè);
測(cè)試頻率范圍:20Hzzhi10 MHz(依據(jù)配套LCR表或阻抗分析儀頻率),基本準(zhǔn)確度0.05%;
升溫速率:升溫速率0.1-10℃/min,測(cè)溫精度±0.1℃
測(cè)試樣品直徑:2 mmzhi25 mm;
樣品厚度:0.02 mmzhi4 mm;
單樣品測(cè)試頻率數(shù):少6個(gè)頻率測(cè)量功能;
變溫介電頻譜測(cè)試功能;
變溫阻抗測(cè)試功能。
應(yīng)用領(lǐng)域:
復(fù)合絕緣材料
高分子絕緣材料
無機(jī)絕緣材料
有機(jī)絕緣材料
其它絕緣材料等
技術(shù)參數(shù):
溫度范圍 | 室溫~1000℃ |
溫度精度 | ±1℃ |
測(cè)量精度 | 0.05% |
升溫速率 | 10℃ |
控溫方式 | PID |
頻率范圍 | 20HZ-30MHZ |
電極材料 | 鉑金 |
通道數(shù) | 通道 1 |
測(cè)量環(huán)境 | 常溫真空氣氛 |
通訊方式 | USB |
設(shè)備尺寸 | 600X400X650m |
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