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電壓擊穿試驗(yàn)儀應(yīng)用領(lǐng)域及核心技術(shù)參數(shù)研究發(fā)布時(shí)間：2025-08-05

電壓擊穿試驗(yàn)儀應(yīng)用領(lǐng)域及核心技術(shù)參數(shù)研究電壓擊穿試驗(yàn)儀作為評估絕緣材料性能的關(guān)鍵設(shè)備，其技術(shù)體系涵蓋原理、硬件、軟件及試驗(yàn)方法等多個(gè)維度，廣泛應(yīng)用于電力、電子、航空航天等領(lǐng)域。一、技術(shù)原理與核心構(gòu)成工作原理：基于電場強(qiáng)度與介質(zhì)強(qiáng)度的關(guān)系，通過逐步升高電壓直至材料擊穿，記錄擊穿電壓...

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2021
1-14

反鐵電體的基本特征
反鐵電性的概念，是美國科學(xué)家Kittle在1951年，根據(jù)宏觀唯象理論提出的，其具體定義為：“反鐵電體晶格內(nèi)部的離子會發(fā)生與鐵電體類似的自發(fā)極化，但不同于鐵電體，反鐵電體內(nèi)部相鄰晶格具有方向相反的自發(fā)極化，因而表現(xiàn)出零剩余極化強(qiáng)度。”因此，...
2021
1-13

讀懂高溫介電溫譜儀的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)及產(chǎn)品用途
高溫介電溫譜儀是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設(shè)計(jì)的。它由硬件設(shè)備和測量軟件組成，包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測量系統(tǒng)軟件四個(gè)組成部分。它為樣品提供一個(gè)高溫環(huán)境；高溫測試夾具提供待測試樣品的測試平臺；阻抗分...
2021
1-13

鐵電材料的發(fā)展
鐵電體早在20世紀(jì)40年代就引起物理學(xué)界和材料學(xué)界的關(guān)注,但由于大塊鐵電晶體材料不易薄膜化,與半導(dǎo)體和金屬不相兼容,使其未能在材料和信息領(lǐng)域扮演重要角色。隨著薄膜制備技術(shù)的發(fā)展,克服了制備高質(zhì)量鐵電薄膜的技術(shù)障礙,特別是能在不同襯底材料上沉...
2021
1-13

差熱分析法的介紹
差熱分析（DTA）是在程序控制溫度下，測量物質(zhì)和參比物的溫度差和溫度關(guān)系的一種技術(shù)。當(dāng)試樣發(fā)生任何物理或化學(xué)變化時(shí)，所釋放或吸收的熱量使試樣溫度高于或低于參比物的溫度，從而相應(yīng)地在差熱曲線上可得到放熱或吸熱峰。差熱曲線（DTA曲線）是由差熱...
2021
1-12

鐵電體的基本特征
鐵電材料是在特定溫度區(qū)間內(nèi)存在自發(fā)極化的一類材料，且在外場作用下，材料自發(fā)極化的方向隨外場方向而改變。因此，“鐵電性”就是晶體的自發(fā)極化在外場作用下發(fā)生改變的性質(zhì)。鈣鈦礦型鐵電體是數(shù)目多的一類鐵電體，其通式為ABO3，結(jié)構(gòu)如圖2.2所示。鈣...
2021
1-12

熱分析技術(shù)及其應(yīng)用
熱分析方法是根據(jù)材料在不同溫度下發(fā)生的熱量、質(zhì)量、體積等物理參數(shù)變化對材料進(jìn)行分析研究的一類分析技術(shù)。根據(jù)物質(zhì)發(fā)生變化的物理參數(shù)不同，相應(yīng)的分析方法有差熱分析法（DTA）、差示掃描量熱法（DSC）、熱機(jī)械分析法（TMA）、動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析法（...

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